产品介绍：
HAST高压加速老化试验箱是在非饱和湿度（65%~100%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。
一般用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等，若待测品是半导体，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中。
技术特点：
①采用干湿球温度控制、升温温度控制及湿润饱和控制等三箱控制模式，可满足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118规范要求；
②出色的温湿度精密控制逻辑，防止待测品潮湿与结露的模式选择；
③压力值采实际感应侦测，确保温度、湿度及压力值准确度；
④三道高温保护装置、湿度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等；
⑤可选购多个BIAS电压端子，符合JESD22-A110之实验规范要求；
⑥湿度自由选择饱和（100%R.H湿度）与非饱和（75%R.H湿度）自由设定。
执行标准与试验方法 ：
● JESD22-A100 循环温湿度偏置寿命
● ESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮
● JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试
● JESD22-A110 高加速温湿度应力试验（HAST）
● JESD22-A108 温度，偏置电压，以及工作寿命（IC寿命试验）
● JESD22-A118 加速水汽抵抗性-无偏压HAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
● GB-T 2423.40-1997 电子产品试验 第2部分：未饱和高压蒸汽恒定湿热
● IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分：稳态湿热（不饱和加压蒸汽）
● JESD22-A103-E 高温贮存寿命
● IPC-J-STD-020 非气密表面贴装器件潮湿/再流焊敏感度分级
● JESD22-A113l 非热表面贴装器件可靠性测试前的预处理
产品参数：
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