HAST 高压加速老化试验箱，主要用于半导体、芯片、电子元器件的加速湿热老化验证，通过高温高压高湿环境，快速暴露样品内部封装缺陷，评估产品耐湿热可靠性。

瑞凯仪器 HAST 试验箱基础参数：

温度：105~155℃

温度精度：±0.5℃

温度均匀度：±0.5℃(at100% RH)，±1.0℃(at85% RH )

湿度：65% RH~100% RH

压力：+0.2~4kg/cm

设备配置 24 根电压施加端子，支持 1V~600V，电流控制在 5A 以内。端子方案支持定制，可扩展至 600V 以上，端子数量、输出电压按项目需求调整，适配不同封装器件的偏压老化测试。

整套设备可匹配多项行业可靠性测试规范，覆盖国内外主流电子可靠性标准：JESD22-A100、GB/T 2423.40-1997、ESD22-A102、IEC 60068-2-66-1994、JESD22-A101、JESD22-A103-E、JESD22-A110、JESD22-A113l、JESD22-A108、IPC-J-STD-02、JESD22-A118。

高压加速老化不同于常规湿热试验，在饱和蒸汽环境下，水汽渗透速率大幅提升，短时间内检验封装密封性。芯片、车规元器件、存储类器件研发和量产阶段，常会选用 HAST 设备做可靠性筛选。

东莞市瑞凯环境检测仪器有限公司专注环境可靠性试验设备研发生产，产品线包含冷热冲击试验箱、PCT 试验箱、快速温变试验箱等，为电子行业提供可靠性试验硬件方案。