光学耦合结构对温度梯度极为敏感。激光器阵列与光纤、透镜间对准容差通常在亚微米级，外壳或基座因温变产生的热胀冷缩，会直接引起耦合效率漂移，表现为光功率波动甚至信号丢失。这要求测试设备不仅温变速率快，还需具备优异的温场均匀性，确保光模块整体同步升降温，避免局部形变带来的误判。