随着5G、物联网和汽车电子的爆发式增长，芯片的工作环境愈发复杂。对于非气密性封装而言，水汽入侵是导致芯片失效的头号杀手。高压加速老化试验箱已成为半导体封测厂筛选早期失效产品的标准配置。
一、评估塑封料与芯片界面的粘接力
在半导体制程中，塑封料（EMC）与芯片表面、引线框架之间的界面是最薄弱的环节。如果界面存在轻微分层或污染，在高温高压环境下，水汽会迅速占据这些空隙。当产品从HAST高压加速老化试验箱取出时，由于内外压力差，这些水汽瞬间膨胀，导致界面进一步开裂，这种现像被称为“爆米花效应”。通过HAST测试，可以直观判断塑封料与基材的匹配度，筛选出粘接力不足的批次。
二、金属化层的抗腐蚀能力验证
芯片内部的铝或铜互连线极细，通常在微米级别。在潮湿环境和电场作用下，铝线容易发生阳极氧化，导致电阻增大甚至开路。HAST试验通常配合在线绝缘阻抗测试系统进行。当我们在高温高压下持续施加偏压时，监测系统实时捕捉漏电流的变化。一旦漏电流突然升高，即表明有金属枝晶正在生长，可能在极短时间内导致短路。这种动态监测为半导体设计者提供了量化数据，用以优化钝化层厚度或改变布线设计。
三、符合JEDEC标准的严苛考核
半导体行业通用标准JESD22-A110明确规定了HAST试验箱的测试条件：130℃/85%RH/33.3psia，测试时间通常为96小时或264小时。通过我们的设备内置标准程序，用户可以一键调用，确保测试流程完全符合国际规范，为芯片出厂提供权威背书。
东莞市瑞凯环境检测仪器有限公司（以下简称“瑞凯仪器”、“公司”）座落于广东省东莞市横沥镇，是一家集模拟环境可靠性试验设备设计、研发、生产销售及服务为一体的高新技术企业，专业的试验设备制造商和试验解决方案综合服务商。产品通过了ISO9001：2015质量管理体系认证、欧盟CE认证、计量保证等体系认证，与国家计量检测、华南计量检测保持长期合作伙伴关系并全面贯彻执行其质量要求。拥有50多项技术专利，东莞市创新型民营示范企业。
公司主营产品有：HAST试验箱、PCT试验箱、高压加速老化试验箱、非饱和高压加速老化试验机、快速温变试验箱、冷热冲击试验箱、恒温恒湿试验箱、高低温试验箱等产品，同时乐意承接制造各种大型非标准复杂环境试验设备及ODM合作。先后在东莞、苏州、长沙、北京、西安等地建立了办事处，同时在全国还建立了完善营销网络和售后服务体系,在国内逐渐树立起良好的品牌形象。产品主要应用在大学院校、科研机构、航空航天、军工、电子光电、电工、塑胶、五金、电池、通信、汽车等领域。不仅赢得了华为、美的、福耀玻璃、松下、宁德新能源、比亚迪汽车、长城汽车等多家世界杰出企业的青睐，更获得中国中车、航天科工集团、中国计量院、中国电信、中国移动、中国南方电网、香港大学、清华大学、中山大学、浙江大学、上海交通大学、华中科技大学、SGS集团、天祥检测等国防军工企业和科研院所的高度肯定。
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