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电子器件高温稳态寿命试验

一、前言

按照GJB 597A-96《半导体集成电路总规范》、CJB 548A-96《微电子器件试验方法和程序》、GJB33A-96《半导体分立器件总规范》和CJB 128-96《半导体分立器件试验方法》等国家军用标准的规定,对于军用电子器件的新产品必须进行“鉴定检验”,只有通过“鉴定检验”的新产品,才能进行小批量或批量生产。而且,在今后每次批量或小批量生产出来的批次产品,还必须进行“质量一致性检验”,只有通过“质量一致性检验”的产品,才能供给用户,交付使用,用到导弹、卫星等军用整机或系统上去。

 

然而,在上述多项标准规定的“鉴定检验”和“质量一致性检验”中,都有“高温1000h通电稳态寿命试验”(也称 “稳态工作寿命试验”)的要求。那末,军用电子器件为什么必须进行1000h 长时间的稳态寿命试验?如何通过试验来保证和提高产品质量?以及在不同或相同温度条件下,选择稳态寿命试验的最佳次数为多少等问题,本文拟作一分析和简述。

二、电子器件必须进行高温稳态寿命试验

1、国内外电子器件质量考核必做的试验项目据查,凡是国内外电子器件标准都对保证其质量问题提出了各种技术要求,并通过各种试验来保证和提高质量的,且这些规定都是经过实践、试验和教训取得的,有依据,符合客观规律。实践表明,按照标准的要求去做,电子器件的质量就能保证和提高。否则,器件就会出现故障,贻误战机,使整个系统失利。表1列出了国内外电子器件的寿命试验及其有关要求,以便于我们比较和分析。

从表1中可以看出,中国军标电子器件工作寿命试验及要求与美国军标的规定是相同的,而中国的加严“七专”规定2个1000h, 即功率老炼1000h,加上高温存贮1000h,比国军标还严。